Untitled document
Приложение к свидетельству № 75541
об утверждении типа средств измерений
Лист № 1
Всего листов 5
ОПИСАНИЕ ТИПА СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2
EPOCH, EPOCH2 (далее
плотности исследуемых
– спектрофотометры)
образцов различного
Назначение средства измерений
Спектрофотометры микропланшетные
предназначены для измерений оптической
происхождения.
Описание средства измерений
Принцип действия спектрофотометров основан на измерении отношения двух световых
потоков, прошедших через канал сравнения и канал образца в кюветном отделении.
Монохроматор в качестве диспергирующего элемента использует вогнутую дифракционную
решетку. Источником света служит импульсная ксеноновая лампа. Монохроматический луч от
монохроматора при помощи полупрозрачного зеркала разделяется на пучки, направляемые на
исследуемый и на эталонный образцы, и направляется в кюветное отделение. Прошедший через
образецпучокзатемпопадаетнадетекторы,вкачествекоторыхиспользуются
высокочувствительные фотодиоды.
Спектрофотометры имеют спектральную ширину щели 2,9 нм.
Спектрофотометры EPOCH, EPOCH2 выпускаются в следующих модификациях:
EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2TS, EPOCH2TSC, EPOCH2С,
EPOCH2Т, EPOCH2ТС.
Спектрофотометры предназначены для измерения оптической плотности образцов в 6-,
12-, 24-, 48-, и 96- луночных планшетах, а также в кварцевых кюветах с длиной оптического
пути в 1 см (кроме модификации EPOCH).
Конструктивно спектрофотометры выполнены в виде настольных приборов и состоят из
основного блока спектрофотометра с кюветным отделением. Модификации EPOCH2TS,
EPOCH2TSC,EPOCH2Т,EPOCH2ТСснабженысенсорнымэкраном.Управление
модификациями EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2С осуществляется через
персональный компьютер, подключаемый к спектрофотометрам.
Общий вид спектрофотометров представлен на рисунках 1 - 4.
Рисунок 1 - Общий вид спектрофотометров EPOCH
Лист № 2
Всего листов 5
Рисунок 2 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2Т, EPOCH2ТС
Рисунок 3 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2TS, EPOCH2TSC
Рисунок 4 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2, EPOCH2С, EPOCH2NS,
EPOCH2NSC
Схема маркировки спектрофотометров представлена на рисунке 5.
Лист № 3
Всего листов 5
Рисунок 5 – Схема маркировки
ПломбированиеСпектрофотометрымикропланшетныеEPOCH,EPOCH2не
предусмотрено.
Программное обеспечение
СпектрофотометрымодификацийEPOCH,EPOCH2,EPOCH2NS,EPOCH2NSC,
EPOCH2С функционируют под управлением автономного специального программного
обеспечения (далее - ПО), установленного на персональный компьютер или планшет. В
спектрофотометрахмодификацийEPOCH2TS, EPOCH2TSC,EPOCH2Т, EPOCH2ТС
используется встроенное программное обеспечение, которое устанавливается заводом-
изготовителем непосредственно в ПЗУ системы.
Программное обеспечение осуществляет функции cбора, обработки и представления
измерительной информации, настройки параметров измерения, построения градуировочных
графиков по стандартам, печати и сохранения результатов анализа.
Программное обеспечение записано в энергонезависимой памяти персонального
компьютера. Невозможно несанкционированное изменение ПО, доступ к программному
обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1 – Идентификационные данные программного обеспечения
Идентификационные данные (признаки)Значение
Идентификационное наименование ПО
Gen5
Номер версии (идентификационный номер) ПО
не ниже 3.0
Цифровой идентификатор ПО -
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений
соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Лист № 4
Всего листов 5
Метрологические и технические характеристики
Метрологические и технические характеристики приведены в таблицах 2 и 3.
Значение
от 200 до 999
±2
от 0,03 до 3,00
±0,03
Таблица 2 - Метрологические характеристики
Наименование характеристики
Спектральный диапазон, нм
Пределы допускаемой абсолютной погрешности установки длины
волны, нм
Диапазон измерений оптической плотности в спектральном диапазоне
от 340 до 750 нм, Б
Пределыдопускаемойабсолютнойпогрешностиизмерений
оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в
диапазоне измерений от 0,03 до 1,00 включ. Б, Б
Пределыдопускаемойотносительнойпогрешностиизмерений
оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в
диапазоне измерений св. 1,00 до 3,00 включ. Б, %
±3,00
Значение
2,9
330
320
395
25
140
от 100 до 240
от 50 до 60
Таблица 3 - Основные технические характеристики
Наименование характеристики
Спектральная ширина щели, нм, не более
Габаритные размеры средства измерений, мм, не более:
- высота
- ширина
- длина
Масса, кг, не более
Потребляемая мощность, В·А, не более
Параметры электрического питания:
- напряжение переменного тока, В
- частота переменного тока, Гц
Условия эксплуатации:
- температура окружающей среды, °С
- относительная влажность, %, не более
от +15 до +35
от 30 до 80
Знак утверждения типа
наносится на корпус прибора методом наклеивания и на титульный лист руководства по
эксплуатации типографским способом.
Комплектность средства измерений
Комплектность средства измерений приведена в таблице 4.
Таблица 4 - Комплектность спектрофотометров
Наименование
Спектрофотометр
Кабель электропитания
USB кабель
Руководство по эксплуатации
Методика поверки
Обозначение
----
МП 023.Д4-19
Количество, шт.
1
1
1
1
1
Поверка
осуществляется по документу МП 023.Д4-19 «Спектрофотометры микропланшетные EPOCH,
EPOCH2. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 03 апреля 2019 г.
Лист № 5
Всего листов 5
Основные средства поверки:
- комплект светофильтров КНС-10.5., рег. № 65272-16;
- комплект светофильтров поверочный КСП-02 рег. № 38817-08.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение
метрологических характеристик, поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.
Сведения о методиках (методах) измерений
приведены в эксплуатационном документе.
Нормативныедокументы,устанавливающиетребованиякспектрофотометрам
микропланшетным EPOCH, EPOCH2
ГОСТ 8.557-2007 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений
спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и
оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального
отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
Техническая документация компании «BioTek Instruments Inc.», США
Изготовитель
Фирма «BioTek Instruments Inc.», США
Адрес: 100 Tigan Street Highland Park, P.O. Box 998, Winooski,
Vermont 054404-0998 USA
Телефон/факс: (800) 242-4685, (802) 655-4740
E-mail:
Заявитель
Общество с ограниченной ответственностью «БиоЛайн
»
(ООО «БиоЛайн»)
ИНН 7813118690
Адрес: 197101, г. Санкт-Петербург, пер. Пинский, д. 3, лит. А
Телефон: (812) 320-49-49
E-mail:
научно-
средств
Испытательный центр
Федеральноегосударственноеунитарноепредприятие«Всероссийский
исследовательский институт оптико-физических измерений»
Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озёрная, д. 46
Телефон: (495) 437-56-33
Факс: (495) 437-31-47
Web-сайт:
E-mail:
Аттестат аккредитации ФГУП «ВНИИОФИ» по проведению испытаний
измерений в целях утверждения типа № 30003-14 от 23.06.2014 г.
Заместитель
Руководителя Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологииА.В. Кулешов
М.п.« ___ » _______________ 2019 г.
Готовы поверить данное средство измерений.
Поверка средств измерений.