Приложение к свидетельству № 61873
об утверждении типа средств измерений
Лист № 1
Всего листов 3
ОПИСАНИЕ ТИПА СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
Анализаторы элементные J200
Назначение средства измерений
Анализаторы элементные J200 (далее - анализаторы) предназначены для измерений массо-
вой доли компонентов в различных твердых образцах в соответствии с аттестованными мето-
диками измерений.
Описание средства измерений
Принцип действия анализатора основан на локальном испарении анализируемой пробы
под действием лазерного излучения с наносекундными импульсами частотой от 1 до 20 имп/с в
среде инертного газа (аргона и/или гелия) с образованием плазменного эмиссионного излуче-
ния, применяемого для определения химического состава и количественного содержания ком-
понентов пробы. Получаемое в процессе работы лазерного источника эмиссионное излучение
регистрируется посредством высокопроводящей волоконной оптики на 6-ти канальном спек-
трометре высокого разрешения. Спектр плазмы состоит из характеристических эмиссионных
линий (атомных и ионных) компонентов пробы.
Лазерный источник состоит из двух основных модулей: блока генератора лазерных им-
пульсов на основе твердотельного лазера (алюмо-иттриевый гранат, легированный ионами не-
одима (Nd:YAG ), с генерацией на длине волны излучения 1064 нм и блока питания со встроен-
ной замкнутой системой водяного охлаждения. Выходящий лазерный луч посредством системы
зеркал и фокусирующих оптических элементов направляется и автоматически фокусируется на
поверхности анализируемого образца. Образец располагается на специальном столике, изоли-
рованном от внешней среды, в атмосфере инертного газа (опционально). Столик оборудован
системой автоматического перемещения в трех координатных осях (X, Y, Z) для локализации
места отбора пробы и фокусировки лазерного луча на поверхности образца. Для мониторинга
анализируемого образца в системе имеется цветная цифровая видеокамера 1280х1024 CMOS с
функцией увеличения изображения. Для управления газовыми потоками в установке использо-
ваны цифровые контроллеры. Для корректировки старта регистрации сигналов в системе ис-
пользуется 4-х канальный генератор задержки импульсов с диапазоном времен задержки от
50 нс до 1 мс с шагом 25 нс.
.
Рисунок 1 - Фотография общего вида анализатора элементного J200
Лист № 2
Всего листов 3
Программное обеспечение
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблицах 1-2.
Таблица 1
Идентификационные данные (признаки)
Идентификационное наименование ПО
Номер версии (идентификационный номер ПО)
Цифровой идентификатор ПО
Другие идентификационные данные (если имеются)
Значение
Aurora Data System
1.0003
3BC63932
-
Таблица 2
Идентификационные данные (признаки)
Идентификационное наименование ПО
Номер версии (идентификационный номер ПО)
Цифровой идентификатор ПО
Другие идентификационные данные (если имеются)
Значение
Axiom LA system
2.3
26CABAA3
-
Программное обеспечение, входящее в состав элементного анализатора, позволяет уста-
навливать и контролировать режимные параметры его работы, отслеживать выполнение анали-
за, обрабатывать экспериментальные данные.
Уровень защиты встроенного программного обеспечения от непреднамеренных и предна-
меренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014 – высокий.
Влияние программного обеспечения анализатора учтено при нормировании метрологиче-
ских характеристик.
1064
от 190 до 1040
10
20
12000
60000
Метрологические и технические характеристики
Длина волны лазерного излучения, нм
Диапазон длины волны, нм
Относительное среднее квадратическое отклонение выходного сигнала
при анализе стандартного образца ГСО 8046-94 состава сплава цинкового
с индексом 1582, %, не более
- для аналитической линии Cu (324,7 нм)
- для аналитической линии Al (396,1 нм)
Интенсивность выходного сигнала при анализе стандартного образца
ГСО 8046-94 состава сплава цинкового с индексом 1582, амплитуда пика,
не менее:
- для аналитической линии Cu (324,7 нм)
- для аналитической линии Al (396,1 нм)
Разрешающая способность по критерию FWHM (ширина пика на полови-
не высоты), нм
Потребляемая мощность, Вт, не более
Габаритные размеры, мм, не более
Масса, кг, не более
0,25
3500
635х686х673
132
Условия эксплуатации:
- температура окружающего воздуха, °С
- относительная влажность окружающего воздуха при t=25
°
С, %
- атмосферное давление, кПа
- напряжение питания, В
- частота переменного тока, Гц
- средний срок службы, лет, не менее
от 15 до 35
от 20 до 80
от 84 до 106,7
-
33
220
+
22
50 ± 1
8
Лист № 3
Всего листов 3
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации методом компьютерной графики и
на корпус элементного анализатора J200 путем наклейки голографического изображения знака
утверждения типа на заднюю стенку анализатора.
Комплектность средства измерений
Элементный анализатор J200.
Устройство ввода пробы (по заказу).
Руководство по эксплуатации.
Методика поверки.
Поверка
осуществляется по документу МП 63554-16 "Анализаторы элементные J200. Методика повер-
ки", утвержденному ФГУП "ВНИИМС" 25 ноября 2015 г.
Средства поверки: ГСО 8046-94 состава сплава цинкового типа ЦА4М1 (комплект М158).
Знак поверки наносится на верхний левый угол правой боковой крышки анализатора.
Сведения о методиках (методах) измерений
отсутствуют.
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к анализаторам
элементным J200
Техническая документация компании Applied Spectra, Inc., США.
Изготовитель
Компания Applied Spectra, Inc., США
Адрес: 46665 Fremont Blvd., Fremont, CA 94538, USA
Тел. + 1 510 657 7679, факс + 1 510 657 7074
Заявитель
Закрытое акционерное общество "МС-АНАЛИТИКА" (ЗАО "МС-АНАЛИТИКА")
Адрес: 119991, г. Москва, ул. Косыгина, д.13, корп. 1
Тел./факс: (495) 995-88-90
Испытательный центр
Федеральноегосударственноеунитарноепредприятие"Всероссийскийнаучно-
исследовательский институт метрологической службы" (ФГУП "ВНИИМС")
Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
Тел./факс: (495)437-55-77/437-56-66
E-mail:
,
Аттестат аккредитации ФГУП "ВНИИМС" по проведению испытаний средств измерений
в целях утверждения типа № 30004-13 от 26.07.2013 г.
Заместитель
Руководителя Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологииС.С. Голубев
М.п.« ___ » _______________ 2016 г.
Готовы поверить данное средство измерений.
Поверка средств измерений.
