Общество с ограниченной ответственностью
"Специализированное управление программ регионального развития"
ООО "СУПРР"
ИНН 7813337035 КПП 781301001 ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
"Специализированное управление программ регионального развития"
ООО "СУПРР"
ИНН 7813337035 КПП 781301001 ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
ООО "СУПРР"
Санкт-Петербург
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
Санкт-Петербург
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855, ГРСИ 60143-15
Номер госреестра:
60143-15
Наименование СИ:
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности
Обозначение типа:
Nanoscan 755, Nanoscan 855
Производитель:
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH", Германия
Межповерочный интервал:
2 года
Сведения о типе СИ:
Срок свидетельства
Срок свидетельства:
13.03.2020
Описание типа:
Методика поверки:
-
Аккредитованная лаборатория
8(812)209-15-19, info@saprd.ru
×
![]()
Приложение к свидетельству № 58190
об утверждении типа средств измерений
Лист № 1
Всего листов 5
ОПИСАНИЕ ТИПА СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности
Nanoscan 755, Nanoscan 855
Назначение средства измерений
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755,
Nanoscan 855, предназначены для измерений геометрических параметров шероховатости и
контура поверхности исследуемых изделий, таких как: цилиндрические поверхности,
отверстия, плоские поверхности, глубокие отверстия малого диаметра, различные виды резьб, а
также изделия с асферической геометрией.
Описание средства измерений
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan
755, Nanoscan 855 (далее – приборы) состоят из следующих элементов.
Гранитной плиты, установленной на элементах воздушного демпфирования с 3
пневмоподушками.Системавоздушногодемпфированиясфункциейрегулирования
удерживает гранитную плиту на постоянном уровне, независимо от нагрузки, и в то же время,
служит для подавления вибраций. Необходимое давление воздуха регулируется с помощью
модуля пневмоподготовки.
На гранитной плите расположены трехосевой измерительный столик для установки и
позиционирования на нем исследуемых объектов, а также моторизованная вертикальная
колонна. На вертикальной колонне закреплен привод горизонтального перемещения waveline
200 nanoscan, на который устанавливается щуповая консоль для проведения измерений
геометрических параметров шероховатости и контура поверхности.
Действие прибора основано на принципе ощупывания неровностей исследуемой
поверхности наконечником измерительного щупа и преобразования, возникающих при этом
механических колебаний щупа в импульсы напряжения, пропорциональные этим колебаниям,
которые усиливаются и преобразуются электронным блоком.
При проведении высокоточных измерений используются щуповые консоли стандартной
длины (измерительный диапазон 24 мм/разрешение 0,6 нм) и двойной длины (измерительный
диапазон 48 мм/разрешение 1,2 нм). Перемещение щуповой консоли отслеживается с помощью
прецизионной оптико-механической системы, в которой оптический датчик отслеживает
латеральное перемещение щуповой консоли по исследуемому образцу.
Узел крепления щуповых консолей снабжен магнитными держателями и выполняет
дополнительнуюфункцию защиты от перегрузок. Приборы комплектуются щуповыми
консолями различной геометрии для разных применений, например, для измерений параметров
шероховатости и контура поверхности, характеризующихся разными углами наклона,
горизонтальных, выпуклых и вогнутых поверхностей, для измерений в отверстияхи т.д.
Щуповая консоль оборудована RFID-чипом, что позволяет сохранять калибровочные данные
щупа и избавляет от необходимости калибровки прибора при каждой смене щуповой консоли.
Щуповые консоли распознаются автоматически и данные считываются с помощью
программного обеспечения. Автоматически задается значение измерительного усилия в
зависимости от радиуса используемого наконечника щуповой консоли. Однако при
необходимости значение измерительного усилия можно настроить вручную под условия
конкретного измерения.
Блок ручного наклона привода waveline 200 nanoscan позволяет провести выравнивание
плоскости сканирования (по оси Х) к поверхности образца. Угол позиционирования возможен в
диапазоне ± 20° и позволяет выполнять удобное грубое выравнивание.
Лист № 2
Всего листов 5
Результаты измерения выводятся на монитор компьютера и могут быть использованы
для дальнейших расчетов.
Прибор для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755
также предназначен для измерения геометрических параметров асферических линз, вследствие
чего комплектуется дополнительной щуповой консолью (щуповая консоль с измерительным
диапазоном 48 мм и разрешением 1,2 нм) и ПО TURBOWAVE со специальной опцией,
способной задавать форму геометрии контролируемой асферической линзы.
Рисунок 1 – Внешний вид прибора для измерений параметров шероховатости и контура
поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855
Программное обеспечение
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура Nanoscan 755, Nanoscan
855 оснащены программным обеспечением TURBOWAVE и EVOVIS. Вычислительные
алгоритмы ПО расположены в заранее скомпилированных бинарных файлах и не могут быть
модифицированы, они блокируют редактирование для пользователей и не позволяет удалять,
создаватьновыеэлементыилиредактироватьотчеты.Идентификационныеданные
программного обеспечения приведены в Таблице 1.
Наименование
программного
обеспечения
Идентификацион
ное наименование
программного
обеспечения
Цифровой
идентификатор
программного
обеспечения
Таблица 1
EVOVIS
TURBOWAVE
EVOVIS
TWW
Номер версии
(идентифика-
ционный
номер)
программного
обеспечения
1.34
7.55
USB-ключ HASP
USB-ключ HASP
Алгоритм
вычисления
цифрового
идентификатора
программного
обеспечения
Бинарный
Бинарный
Программное обеспечение является неизменным. Средства для программирования или
изменения метрологически значимых функций отсутствуют.
Главной защитой ПО является USB-ключ-заглушка. HASP (программа, направленная на
на борьбу с нарушением авторских прав на компьютерное пиратство) использует 128-битное
шифрование по алгоритму AES (симметричный алгоритм блочного шифрования информации),
что позволяет предотвратить неавторизованное использование ПО.
Защита программного обеспечения приборов соответствует уровню «высокий» в
соответствии с Р 50.2.077-2014.
Лист № 3
Всего листов 5
Модель
3
от 0 до 200
0,1-3
9 мм/с
≤0,4
±12,5 мм
±5
Метрологические и технические характеристики
Таблица 2
Nanoscan 755Nanoscan 855
Измеряемые параметры шероховатости:
Измеряемые параметры профиля:
Типы фильтров
Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, Rsk, Imo, Io, Rdq, da,
ln, La, Lq, Rz-ISO, R3z, Rpm, Rp3z, R3zm,
Rp, D, Rpc, RSm, Rpm/R3z, lr, Rku, tpif,
Rdc, tpia, tpip, tpic, Rt/Ra, Rz1, Rz2, Rz3,
Rz4, Rz5, Rmr, Rmr%, Api, Rpk
Pt, Pp, Pz, Pa, Pq, Psk, PSm, Pdq, lp, Pku,
tpaf, tpaa, tpab, tpac, Pmr0, APa, APa%,
Pmr, Pmr%, Pdc
RC, аналоговый фильтр, цифровой
Гауссов фильтр (М1), двойной Гауссов
фильтр (М2), грубый Гауссов фильтр
0,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8
30, 100, 300
± (1 +0,015∙Х), где Х –измеряемая длина в
мм
± 2∙(0,25 +0,04∙Z), где Z –измеряемая
высота в мм
±0,5
TURBOWAVEEVOVIS
Отсечка шага λc, мм
Соотношение λc/λs
Предел допускаемой основной относительной погрешности
прибора по параметру Ra, %
Пределы допускаемой погрешности при измерении длины по
оси X, мкм*
Пределы допускаемой погрешности при измерении длины по
оси Z, мкм*
Пределы допускаемой погрешности при измерении углов,…’
Программное обеспечение
Щуповые консоли
Диапазон измерений параметров шероховатости по оси Z, мм
Разрешение, нм
Измерительное усилие, мН (регулируемое)
Наконечник щуповой консоли
от 0 до 24/ от 0 до 48от 0 до 24
0,6/1,2 0,6
от 1 до 50от 1 до 50
Алмаз 5 мкм/90˚, Алмаз 5 мкм/90˚,
2 мкм/60˚, рубиновый2 мкм/60˚,
наконечник
Ø
1 мм, рубиновый
твердосплавныйнаконечник
Ø
1 мм,
наконечник
Ø
20 мкм твердосплавный
наконечник
Ø
20
мкм
Горизонтальный привод (ось Х)
Диапазон измерений, мм
Скорость при измерении, мм/с
Максимальная скорость позиционирования, мм/с
Допускаемое отклонение от прямолинейности перемещения
по оси Х, мкм/200 мм
от 0 до 550
0,1-50
≤10
160
160
96
30
Вертикальная колонна (ось Z)
Диапазон перемещений, мм
Скорость позиционирования, мм/с
Повторяемость позиционирования щупа по оси Z, мкм
Измерительный стол:
Диапазон перемещений, мм
Диапазон вращения относительно вертикальной оси,… ˚
Габариты измерительного стола, мм, не более
Длина
Ширина
Высота
Масса измеряемой детали, кг, не более
Электропитание:
Напряжение
Допускаемое колебание напряжения
115/230 В
-5 % ÷ 10 %
Лист № 4
Всего листов 5
50-60 Гц
370/350 В∙А
5 – 6
1
от 18 до 25
± 1
от 40 до 85
1190
800
780
Частота
Мощность
Сжатый воздух:
Давление, бар
Расход, л/ч
Условия эксплуатации:
Диапазон рабочих температур, ˚С
Температурный градиент, ˚С/ч
Относительная влажность воздуха, %
Размеры стола для Nanoscan, мм
Длина
Ширина
Высота
Размеры гранитной плиты, мм
Длина
Ширина
Высота
850
600
140
* - с щуповой консолью длиной 90 мм и сферическим наконечником.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на Руководство по эксплуатации прибора типографским
методом, на панель блока прибора методом наклейки.
шероховатости и контура Nanoscan 755, Nanoscan
Модель прибора
Комплектность средства измерений
Приборы для измерений параметров
855 поставляются в комплекте:
Таблица 3
Моторизованная колонна
Nanoscan Nanoscan
755 855
+ +
Привод waveline 200 nanoscan++
Опора с поворотным устройством++
Гранитная плита++
Пульт управления wavecontrol++
Измерительный стол MT1 XY0++
Щуповые консоли:
Щуповая консоль с диапазоном измерения 24 мм,
щуп 2 мкм/60˚
-
+
Щуповая консоль с диапазоном измерения 48 мм и
рубиновым
наконечником диаметром 1 мм
+
-
-
+
Щуповая консоль с диапазоном измерения 24 мм и рубиновым
наконечником диаметром 1 мм
Стол для оператора с тумбой для ПК
ПК с ОС Windows 7
Руководство по эксплуатации
Методика поверки
++
++
++
++
Поверка
осуществляется в соответствии с документом МП 60143-15 «Приборы для измерений
параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855. Методика
поверки», утвержденным ФГУП «ВНИИМС» в июле 2014 г.
Лист № 5
Всего листов 5
Основные средства поверки:
Меры для поверки приборов для измерений контура поверхности KN 100 (Госреестр
№ 52266-12), Меры для поверки приборов для измерений шероховатости поверхности PGN 1,
PGN 3, PGN 10, PEN 10-1 (Госреестр № 52740-13).
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к приборам для
измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855
ГОСТ 8.296-78 «ГСИ. Государственный специальный эталон и общесоюзная поверочная
схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax и Rz в диапазоне 0,025... 1600
мкм».
ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений
длины в диапазоне 1
×
10
-9
…50 м и длин волн в диапазоне 0,2 … 50 мкм».
Техническая документация фирмы - изготовителя.
Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования
обеспечения единства измерений
Выполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции
других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской
Федерации обязательным.
Изготовитель
Hommel-Etamic GmbH, Германия
Address: Alte Tuttlinger Straße 20,
78056 VS-Schwenningen, Phone +49 7720 602-0 Fax: +49 7720 602-123
E-mail:
Заявитель
ЗАО «Мастер-ФИТ»
192171, г. Санкт-Петербург, ул. Седова, 65А
Тел. (812) 336-40-50, факс (812) 560-00-22
Адрес эл.почты:
Испытательный центр
Федеральноегосударственноеунитарноепредприятие«Всероссийскийнаучно-
исследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС»)
Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
Телефон: (495) 437 55-77, факс: (495) 437-56-66,
E-mail:
Аттестат аккредитации ФГУП «ВНИИМС» по проведению испытаний средств измерений в
целях утверждения типа № 30004-13 от 26.07.2013г.
Заместитель
Руководителя Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологииС.С. Голубев
М.п.«
»________2015 г.
Готовы поверить данное средство измерений.
Поверка средств измерений.
| ГРСИ | Наименование СИ | Тип СИ | Производитель | МПИ | Ссылка |
| 625-50 | Приборы вторичные показывающие | ЭВП | Нет данных | Нет данных | Перейти |
| 11285-88 | Приборы полуавтоматические для измерения твердости металлов по методу Бринелля | ТБ 5004 | АО "Точприбор", г.Иваново | Нет данных | Перейти |
| 60339-15 | Преобразователи | Магнит-7Л | ОАО "НИИ физических измерений" (НИИФИ), г.Пенза | 2 года | Перейти |
| 4895-12 | Приборы для отмеривания жидкостей | Нет данных | ПАО "Химлаборприбор", г.Клин | Первичная поверка до ввода в эксплуатацию | Перейти |
| 36192-07 | Приборы для проверки параметров торможения | КТС-1М | ЗАО "ТАИС", г.Новосибирск | 1 год | Перейти |
Общество с ограниченной ответственностью
"Специализированное управление программ регионального развития"
ООО "СУПРР"
ИНН 7813337035 КПП 781301001 ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
"Специализированное управление программ регионального развития"
ООО "СУПРР"
ИНН 7813337035 КПП 781301001 ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
Поверка средств измерений
ООО "СУПРР"
ИНН 7813337035 КПП 781301001
ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
ИНН 7813337035 КПП 781301001
ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru
Поверка средств измерений