Untitled document
Приложение к свидетельству № 54418
об утверждении типа средств измерений
Лист № 1
Всего листов 4
ОПИСАНИЕТИПАСРЕДСТВАИЗМЕРЕНИЙ
Микроскопы видеоизмерительные KIM-2010N
Назначение средства измерений
Микроскопы видеоизмерительные KIM-2010N (далее - микроскопы) предназначены
для автоматизированных двухмерных измерений линейных размеров.
Описание средства измерений
Принцип действия микроскопов основан на считывании с измерительных шкал
значений перемещения подвижного предметного стола по осям X, Y, соответствующих
линейным размерам измеряемого объекта.
Конструктивномикроскопысостоятизгранитногооснования,подвижного
предметного стола с измерительными шкалами, вертикальной колонки с оптическим
преобразователем, персонального компьютера.
Конструкциямикроскоповпредусматриваетгрубоеиточноеперемещение
подвижного предметного стола. Грубое перемещение осуществляется вручную. Точное
перемещение осуществляется с помощью вращающихся рукояток, соответствующих осям X
и Y. Для предотвращения грубого перемещения подвижный стол снабжен механическими
фиксаторами для каждой оси.
Фокусировка оптического преобразователя на измеряемом объекте осуществляется
автоматически либо вручную с помощью вращающейся рукоятки на вертикальной колонке.
Микроскопы могут работать в режиме отраженного и проходящего света. Осветитель
для работы в режиме проходящего света расположен под подвижным предметным столом.
Осветители для работы в отраженном свете расположены по окружности оптического
преобразователя. Переключение режима и настройка яркости освещения производится с
помощью рукояток на передней панели, расположенной на гранитном основании.
В комплект поставки микроскопов входит калибровочный образец – стеклянная
пластина с нанесенными на ней окружностями с известными значениями диаметров.
Рисунок 1 - Общий вид микроскопа KIM-2010N
Лист № 2
Всего листов 4
Программное обеспечение
Микроскопы работают с автономным программным обеспечением SI-101 (далее - ПО),
входящим в комплект поставки. ПО обеспечивает отображение измеряемого объекта и
величины перемещения подвижного предметного стола, осуществление измерений, передачу
данных на персональный компьютер, запись и обработку результатов измерений.
SI
SI-101
6.2.0
MD5
Наименование
программного
обеспечения
Идентификационное
наименование
программного
обеспечения
Номерверсии
(идентификаци-
онныйномер)
программного
обеспечения
Таблица 1
Алгоритм
вычисления
цифрового
идентификатора
программного
обеспечения
Цифровой
идентификатор
программного
обеспечения
(контрольная
сумма
исполняемого
кода)
02a4faaec4fd3f64
8ad69357dcb1d5
d7
ПО не предусматривает возможность доступа в настройки, для чего необходим
уникальный программный код, имеющийся только у предприятия-изготовителя.
Защита ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует
уровню «С» по МИ 3286-2010.
При нормировании метрологических характеристик учтено влияние ПО.
Метрологические и технические характеристики
Основные метрологические технические характеристики микроскопов представлены в
таблице 2.
Таблица 2
Значение параметра
0 – 200
0 – 100
±
(3+L/150),
L – измеряемая длина в мм
0,5
25
530
´
690
´
945
Наименование параметра и единицы измерений
Диапазон измерений линейных размеров, мм:
- по оси X
- по оси Y
Пределы допускаемой абсолютной погрешности
измерений линейных размеров, мкм
Дискретность отсчета, мкм
Масса измеряемого объекта, кг, не более
Габаритные размеры (длина, ширина, высота),
мм, не более
Масса, кг, не более
Параметры электропитания
Средний срок службы, лет
Наработка на отказ, ч
150
напряжение (100-110) или (220-230) В
переменного тока частотой 50/60 Гц,
потребляемая мощность не более 0,5 кВт
5
5000
Лист № 3
Всего листов 4
Условия эксплуатации:
- диапазон температуры окружающего воздуха,
о
С
- диапазон относительной влажности окружающего воздуха, %
- диапазон атмосферного давления, кПа
20
±
5;
от 40 до 70;
от 84,0 до 106,7.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится резиновым клише на титульный лист руководства
по эксплуатации и на наружную сторону гранитного основания микроскопов в виде
наклейки.
Комплектность средства измерений
Комплектность микроскопов представлена в таблице 3.
№ п/пНаименование
1Микроскоп
2Калибровочный образец
3Упаковочный чехол
4Персональный компьютер
5Программное обеспечение SI-101
6Руководство по эксплуатации
7Методика поверки МП 2512-0004-2013
Таблица 3
Количество,
шт.
1
1
1
1
1
1
1
Поверка
осуществляется по документу МП 2512-0004-2013 «Микроскопы видеоизмерительные KIM-
2010N. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева»
25 февраля 2013 г.
Основными средствами поверки являются меры длины штриховые эталонные
3 разряда по ГОСТ Р 8.763-2011.
Сведения о методиках (методах) измерений
Методика измерений приведена в документе «Микроскопы видеоизмерительные
KIM-2010N. Руководство по эксплуатации», 2012 год.
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопам
видеоизмерительным KIM-2010N
Техническая документация фирмы «ARCS Precision Technology CO., LTD» (Тайвань).
Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования
обеспечения единства измерений
при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции
других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской
Федерации обязательным требованиям.
Лист № 4
Всего листов 4
Изготовитель
Trial «ARCS Precision Technology CO., LTD», Тайвань.
Адрес: 1I-F, No/123, Taichung Port Rd., Sec. 3, Shitun District, Taichung City 407, Taiwan.
Заявитель
ЗАО НПФ «Уран».
Адрес: 198009, Россия, г. Санкт-Петербург, ул. Промышленная, 5.
Телефон: (812) 335-09-75.
Испытательный центр
ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева».
Адрес: 190005, Россия, г. Санкт-Петербург, Московский пр., д. 19.
Телефон: (812) 251-76-01, факс: (812) 713-01-14.
Аттестат аккредитации ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» по проведению
испытаний средств измерений в целях утверждения типа № 30001-10 от 20.12.2010 г.
Заместитель
Руководителя Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологииФ.В. Булыгин
«__»_________2014 г.
М.п.
Готовы поверить данное средство измерений.
Поверка средств измерений.