Приложение к свидетельству № 47039
об утверждении типа средств измерений
лист № 1
всего листов 5
ОПИСАНИЕ ТИПА СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
Спектрометры рентгенофлуоресцентные EDX-720-P/800HS-P, XRF-1800, MXF-
2400
Назначение средства измерений
Спектрометры рентгенофлуоресцентные EDX-720-P/800HS-P, XRF-1800, MXF-2400
(далее – спектрометры) предназначены для контроля элементного состава твердых и жидких
сред, порошков, пленок.
Описание средства измерений
Принципработыспектрометровоснованнаизмеренииинтенсивности
флуоресцентного излучения, испускаемого атомами определяемых элементов, содержащихся
в пробе, под воздействием рентгеновских лучей.
Для регистрации квантов рентгеновского излучения в энергодисперсионных спектро-
метрах EDX-720-P/800HS-P, используется полупроводниковый детектор, охлаждаемый жид-
ким азотом. В спектрометрах используют специальные фильтры, позволяющие увеличить
соотношение сигнал/шум для отдельных элементов, и, соответственно, улучшить пределы
обнаружения данных элементов.
В спектрометрах MXF-2400 реализована многоканальная оптическая схема (до 36 мо-
нохроматоров с фиксированной длиной волны), что позволяет одновременно определять 36
элементов. Прибор может быть также укомплектован сканирующими монохроматорами,
обеспечивающими определение до 48 элементов.
Спектрометры имеют специальные кюветные отделения с автоматической загрузкой
проб, позволяющие анализировать твердые, жидкие среды, порошки, гранулы, тонкие плен-
ки.
При попадании рентгеновского излучения на исследуемый образец каждый элемент,
входящий в состав образца, флуоресцирует на специфической для него длине волны (рентге-
новская флуоресценция). Поскольку образец состоит из множества элементов, то вторичная
рентгеновская флуоресценция представляет собой излучение, состоящее из множества линий
характеристического излучения элементов. Это излучение попадает в монохроматоры, рас-
положенные вокруг образца. Каждый монохроматор установлен на соответствующую длину
волны. После этого луч попадает в детектор, присоединенный к монохроматору. Интенсив-
ность излучения пропорциональна содержанию соответствующего элемента. Прибор позво-
ляет одновременно обнаружить, измерить и зафиксировать интенсивность излучения раз-
личных элементов.
В спектрометре MXF-2400 для определения большинства элементов используются га-
зовые детекторы отпаянного типа с окном из легкого металла, заполненные инертным газом
(Ne, Ar или Kr) под давлением 1
×
10
5
Па.
Для определения таких элементов, как C, F и Na, характеристический спектр которых
поглощается окном из металла, используется проточно-газовый детектор с постоянным по-
током газа и окном из ультратонкой пленки из высокомолекулярных соединений с напылён-
ным на неё слоем алюминия.
Спектрометры имеют специальные кюветные отделения с автоматической загрузкой
проб, позволяющие анализировать твердые, жидкие среды, порошки, гранулы, тонкие плен-
ки.
Спектрометры XRF-1800 состоят из блока генератора рентгеновского излучения, блока
спектрометра, контроллера и рабочей станции XRF. Блок генератора рентгеновского излуче-
ния представляет собой цепь для образования первичного рентгеновского излучения. В спек-
трометре происходит облучение образца первичным рентгеновским излучением и регистри-
лист № 2
всего листов 5
руется рентгеновская флуоресценция, излучаемая образцом на каждой длине волны, путем
использования аналитического кристалла и измерения интенсивности исходящих рентгенов-
ских лучей при вращении гониометра.
Блок спектрометра состоит из самого спектрометра, устройства подачи образца, де-
тектора, системы вакуумирования и системы термостатирования.
Первичное рентгеновское излучение проходит через бериллиевое окно на торце рент-
геновской трубки и облучает анализируемый образец. Мишень рентгеновской трубки изго-
товлена из родия (Rh), поэтому первичное рентгеновское излучение представляет собой не-
прерывное рентгеновское излучение и характеристическое рентгеновское излучение родия
(линии серий Rh-K, Rh-L и т.д.).
В процессе работы мишень (анод) рентгеновской трубки сильно разогревается. Для
предотвращения расплавления мишень охлаждается потоком дистиллированной воды с низ-
кой электропроводностью посредством охлаждающего термостата. Рентгеновская трубка
также охлаждается за счет циркуляции охлаждающей воды.
Устройство для подачи образца состоит из турели, на которой можно установить во-
семь образцов, подъемника, держателя образца и устройства вращения образца.
Модель XRF 1800 имеет дополнительное устройство для вращения анализируемого об-
разца с цифровой видеокамерой, что позволяет выбрать необходимый локальный участок (до
500 мкм) с целью оценки распределения содержания элементов в образце.
С помощью программного обеспечения реализуется полная автоматизация анализа, на-
чиная от загрузки образца и до представления результатов измерений в виде таблиц, графи-
ков, спектров, с учетом матричных эффектов выполняется корректировка градуировочных
характеристик, автоматически изменяется скорость сбора данных с целью оптимизации ко-
личественного анализа.
Идентификация элементов и определение их содержания выполняются на основе базы
данных. Программа управляет системой непрерывного мониторинга состояния прибора.
Рис. 1. Внешний вид спектрометра EDX-720.
лист № 3
всего листов 5
Рис. 2. Внешний вид спектрометра MXF-2400.
Рис. 3. Внешний вид спектрометра XRF-1800.
Алгоритм вы-
числения циф-
рового иденти-
фикатора про-
граммного
обеспечения
Md5
Md5
Программное обеспечение
Идентификационные данные программного обеспечения
Модель спек- Наимено- Идентифи- Номер вер- Цифровой идентифи-
трометроввание про- ка-ционноесии (иден-катор программного
граммногонаимено- тификацион- обеспечения (кон-
обеспече-вание про- ный номер)трольная сумма ис-
нияграммногопрограмм- полняемого кода)
обеспече-ного обес-
ния печения
EDX-720-P/PCEDX-ЕPCEDX-EVer.1.121FBB767EC3FD058F
800HS-P 1A3E6E4C0713E873
MXF-2400PCMXF-EPCMXF-EVer.1.125072D8CB97867EDF
40D9BFF5C745099D
XRF-1800PCXRF-EPCXRF-EVer.1.2216D3C36BB038A93F
E9B1354B71785539
Md5
лист № 4
всего листов 5
Степень защиты ПО соответствует уровню «С» в соответствии с МИ 3286-2010.
Обработка метрологических данных происходит на основе жестко определенного алго-
ритма без возможности изменения.
Метрологически незначимая часть, состоит из ПО, которое используется для обеспече-
ния наилучшей наглядности отображения информации.
Защита ПО осуществляется посредством записи защитного бита при программирова-
нии микропроцессора в процессе производства анализаторов. Защитный бит запрещает чте-
ние кода микропрограммы, поэтому модификация программного обеспечения (умышленная
или неумышленная) невозможна. Снять защитный бит можно только при полной очистке
памяти микропроцессора вместе с программой находящейся в его памяти.
Программное обеспечение не влияет на метрологические характеристики спектромет-
ров рентгенофлуоресцентных EDX-720-P/800HS-P, XRF-1800, MXF-2400.
Метрологические и технические характеристики
Определяемые элементы
от Be до U
от 10
-4
до 100 (в зависимости от определяемого элемента)
Максимальное число опре-
деляемых в пробе элементов
1,5
15
10
580х750х420
1770х1080х1350
1130х1160х1672
Наименование характери-
стики
EDX-720-P/800HS-PXRF-1800MXF-2400
от Na до U (EDX 720-P);
от C до U (EDX 800HS-P)
Диапазон измерений массо-
вой доли, %
Пределы допускаемого отно-
сительного СКО (%) случай-
ной составляющей погреш-
ности измерений в диапазоне
массовой доли
(от 10
-4
до 1) %
свыше 1 %
Разрешение, не более
180 эВ (FeK
a
)
82 (EDX 720P);
87 (EDX 800HS-P)
5
1
0,6
0
(CuK
a
)
88
0,6
0
(CuK
a
)
36
(ещё 48 при до-
полнительной
комплектации)
220
±
10 %
100
760
600
Напряжение питания, В
Потребляемая мощность,
кВт, не более
Масса, кг, не более
Габаритные размеры, мм, не
более
Условия применения:
– температура окружающей среды,
0
С
для EDX-720-P/800HS-P
для XRF-1800, MXF-2400
от 10 до 30
от 18 до 28
– относительная влажность, %
от 40 до 70
прибора и может дублироваться на
лист Руководства по эксплуатации
Знак утверждения типа
наносится на шильдик с индивидуальным номером
лицевой панели прибора, а также, на титульный
спектрометра.
лист № 5
всего листов 5
Комплектность средства измерений
Спектрометры рентгенофлуоресцентные EDX-720-P/800HS-P, XRF-1800, MXF-2400.
Руководство по эксплуатации на русском языке.
Методика поверки.
Поверка
осуществляется по документу МП trial-12 "Инструкция. Спектрометры рентгенофлуорес-
центные EDX-720-P/800HS-P, XRF-1800, MXF-2400. Методика поверки", разработанным и
утвержденным ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" в 2012 году и входящим в комплект поставки.
Основные средства поверки:
– ГСО состава латуни марганцево–железной ЛЦ 40 МцЗЖ;
– ГСО состава легированной стали № 8876-2007 (комплект ЛГ-58).
Сведения о методиках (методах) измерений
приведены в руководстве по эксплуатации.
Нормативные документы, устанавливающие требования к спектрометрам рентгено-
флуоресцентным EDX-720-P/800HS-P, XRF-1800, MXF-2400
Техническая документация фирмы-изготовителя.
Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обес-
печения единства измерений
вне сферы государственного регулирования.
Изготовитель
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония
Адрес: 1, Nishinokyo-Kuwabaracho, Nakagyo-ku, Kyoto, 604-8511, Japan
Заявитель
Фирма "Shimadzu Europa GmbH", Германия.
Адрес:Albert-Hahn-Strasse 6-10, D-47269 Duisburg F.R.G.
Испытательный центр
Государственный центр испытаний средств измерений (ГЦИ СИ)
ФГУП "ВНИИМС", г. Москва
Аттестат аккредитации № 30004-08 от 27.06.2008 г.
Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
Тел./факс: (495) 437-55-77 / 437-56-66
E-mail:
, адрес в Интернет:
Заместитель
Руководителя Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологииЕ.Р. Петросян
"_____" ___________ 2012 г.
Готовы поверить данное средство измерений.
Поверка средств измерений.
