ГРСИ 48500-11: Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов Нет данных. Поверка

Общество с ограниченной ответственностью
"Специализированное управление программ регионального развития"
ООО "СУПРР"
ИНН 7813337035 КПП 781301001 ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru

ООО "СУПРР"
Санкт-Петербург
8(812)209-15-19
info@saprd.ru

Заказать
поверку данных СИ
в аккредитованной лаборатории

Заказать
поверку

Смотреть ГРСИ
48501-11

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов Нет данных, ГРСИ 48500-11

Смотреть ГРСИ
48499-11

Номер госреестра:

48500-11

Наименование СИ:

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

Обозначение типа:

Нет данных

Производитель:

ФГУП МГУ им.М.В.Ломоносова, г.Москва

Межповерочный интервал:

1 год

Сведения о типе СИ:

Заводской номер

Заводской номер:

зав.№ 001

Описание типа:

Скачать
описание типа СИ

Методика поверки:

Поверка<br>Аккредитованная лаборатория<br>8(812)209-15-19, info@saprd.ru

Поверка
Аккредитованная лаборатория
8(812)209-15-19, info@saprd.ru

К сожалению, комментарии пока что отсутствуют. Вы можете быть первым. Оставить комментарий:

Описание типа средства измерения: Читать в отдельном окне

Untitled document

Приложение к свидетельству № 44781

об утверждении типа средств измерений

Лист № 1

Всего листов 6

ОПИСАНИЕ ТИПА СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных

оптическихвосприимчивостейтретьегопорядкананоструктурированных

материалов

Назначение средства измерений

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических

восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов (далее по тексту –

система лазерная) предназначена для измерений с пикосекундным и фемтосекундным вре-

менным разрешением соответственно нелинейных оптических восприимчивостей третьего

порядка, отвечающих за процесс самовоздействия света в наноструктурированных полупро-

водниковых образцах, представляющих собой тонкие пленки толщиной от 5 до 100 мкм.

Описание средства измерений

Принцип измерения значений нелинейной восприимчивости χ

(3)

(ω; ω, -ω, ω) заклю-

чается в косвенном методе анализа изменения профиля пучка в дальнем поле. В систему

лазерную входят два лазерных пучка, отличающиеся различными длинами волн и энергиями

лазерных импульсов, которые и являются накачкой и зондом. Для накачки используется бо-

лее коротковолновое лазерное излучение с большей энергией. Лазерный импульс с большей

длиной волны и энергией на два порядка меньшей является зондом. В обоих пучках исполь-

зуется импульсное лазерное излучение в моде TEM

, обладающей гауссовским пространст-

венным распределением, получаемой пропусканием лазерного импульса через пространст-

венный фильтр. Использование линии задержки для излучения накачки обеспечивает изме-

рение величин кубической нелинейно-оптической восприимчивости с временным разреше-

нием.

Оба используемых лазерных пучка на выходе из линии задержки сводятся вместе

при помощи дихроичного зеркала и далее распространяются по одинаковому оптическому

пути. Излучение на обеих длинах волн проходит через фокусирующую линзу и исследуемый

образец, который располагается на некотором расстоянии за плоскостью перетяжки фокуси-

руемого зондирующего лазерного пучка. Прошедшее через образец зондирующее излучение

выделяется с помощью фильтра, отражающего более коротковолновое излучение накачки.

Для изменения интенсивности падающего лазерного излучения накачки используется опти-

ческий аттенюатор, состоящий из оптического фильтра с градиентным напылением металла,

для которого коэффициент пропускания меняется при его смещении.

Измерения проводятся с использованием четырёх фотодиодов, регистрирующих

следующие энергетические характеристики лазерного излучения:

– энергию падающего на образец лазерного импульса накачки;

– энергию падающего на образец зондирующего лазерного импульса;

– полную энергию прошедшего через образец зондирующего лазерного импульса

(полное пропускание образца);

– энергию прошедшего через образец зондирующего лазерного импульса вблизи оси

пучка (приосевое пропускание образца).

На каждый из диодов излучение отводится светоделительными пластинками с из-

вестными коэффициентами отражения. Диоды калибруются с использованием поверенного

по ГОСТ 8.275-2007 измерителя энергии лазерных импульсов и светоделителя с известными

коэффициентами отражения и пропускания.

Лист 2

Всего листов 6

Вычисление значений нелинейной восприимчивости χ

(3)

(ω; ω, -ω, ω) проводится

анализом зависимостей полного и приосевого пропускания образца от интенсивности излу-

чения зондирующего излучения при заданных временах задержки между импульсами накач-

ки и зонда согласно аттестованной “Методики измерений значений нелинейно-оптической

восприимчивости для процесса самовоздействия света в наноструктурированных полупро-

водниках методом накачка-зонд”.

В качестве источников лазерного излучения могут использоваться пикосекундный

Nd:YAG лазер EKSPLA PL2143A или фемтосекундный лазерный комплекс на кристалле

хром-форстерита (производитель – ООО “Авеста-Проект”). Генерация длин волн различной

частоты осуществляется либо посредством внутрирезонаторной генерации второй оптиче-

ской гармоники либо с помощью параметрической генерации света. Общий вид источников

лазерного излучения представлен на рисунке 1.

Рисунок 1 – Общий вид пикосекундного Nd:YAG лазер EKSPLA PL2143A (а) и фемтосе-

кундного лазерного комплекса на кристалле хром-форстерита (б).

Для обеспечения задержки между импульсами накачки и зонда используется управ-

ляемая с помощью ПЭВМ оптическая линия задержки (производитель – ООО “Авеста-

Проект”), общий вид которой показан на рисунке 2.

Рисунок 2 – Общий вид оптической линии задержки.

(а)(б)

Лист 3

Всего листов 6

Программное обеспечение (ПО)

ПО предназначено для управления оптической линией задержки и обработки сигна-

лов, измеряемых с помощью фотодиодов. ПО запускается на ПЭВМ. Оно состоит из управ-

ляющей программы KFK.exe и служебных файлов ftbusui.dll, ftcserco.dll, ftd2xx.dll, ftd2xx.lib,

ftdibus.sys, ftlang.dll, ftser2k.sys, ftserui2.dll, line_usb.dll, обеспечивающих перемещение карет-

ки оптической линии задержки, считывание и оцифровку показаний фотодиодов, управле-

ние USB-портом, настройки, расчеты. ПО работает под управлением операционной системы

Windows ХР. Основные характеристики ПО представлены в таблице.

KFK

версия 1.0

A97ACCB6654D80

0E6FE68648E9DF6

674

(расчет по испол-

няемому файлу

KFK.exe)

MD5

Таблица 1

Наименование

программного

обеспечения

Идентификаци-

онное наимено-

вание программ-

ного обеспечения

Номер версии

(идентификацион-

ный номер) про-

граммного обеспе-

чения

Цифровой идентифи-

катор программного

обеспечения (кон-

трольная сумма ис-

полняемого кода)

Алгоритм вычис-

ления цифрового

идентификатора

программного

обеспечения

Программа

обработки

данных и

управления

оптической

линией за-

держки

Метрологически значимая часть ПО скрыта от пользователя и доступна только

при сервисном обслуживании. Идентификация программного обеспечения осуществля-

ется проверкой соответствия серийных номеров аппаратной части программного обес-

печения и программного обеспечения, установленного на персональный компьютер,

при включении прибора. При этом также проверяется соответствие номеров драйверов,

установленных с оригинальных дисков производителя и зарегистрированных в опера-

ционной системе персонального компьютера.

Программное обеспечение размещается в энергонезависимой памяти персональ-

ного компьютера, запись которой осуществляется в процессе производства. Доступ к

программному обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи

пользователя.

Обмен данными между системой лазерной с оптической линией задержки и пер-

сональным компьютером осуществляется по порту USB.

Метрологически значимая часть программного обеспечения KFK имеет уровень

защиты «С» от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с МИ

3286-2010.

(а)(б)(в)(г)

Рисунок 3 – Маркировка лазеров. Места расположения маркировок лазера EKSPLA 2143A

(а) и параметрического генератора света EKSPLA PG 501P (в) и их маркировки: (б) и (г) со-

ответственно. Стрелками указаны места пломбирования.

Лист 4

Всего листов 6

Метрологические и технические характеристики

Метрологические характеристики системы лазерной представлены в таблице 2

33 ÷ 35

532 ÷ 2100

0 ÷ 50

70 ÷ 150

1000 ÷ 1500

0 ÷ 4000

Значение

-23

÷ 10

-12

Таблица 2

Наименование характеристики прибора

Диапазон измерений нелинейной оптической восприимчивости

третьего порядка, м

/В

Пределы допускаемой относительной погрешности измерения нели-

нейной оптической восприимчивости третьего порядка, %

Длительность лазерных импульсов, генерируемых пикосекундным

лазером EKSPLA PL2143A, пс

Диапазон перестройки по длине волны лазерных импульсов, генери-

руемых пикосекундным лазером EKSPLA PL2143A, нм

Диапазон энергий лазерных импульсов, генерируемых пикосекунд-

ным лазером EKSPLA PL2143A, мДж

220 ± 22

50 ± 1

2000

Длительность лазерных импульсов, генерируемых фемтосекундным

лазерным комплексом на кристалле хром-форстерита, фс

Диапазон перестройки по длине волны лазерных импульсов, генери-

руемых фемтосекундным лазерным комплексом на кристалле хром-

форстерита, нм

Диапазон энергий лазерных импульсов, генерируемых фемтосекунд-

ным лазерным комплексом на кристалле хром-форстерита, мкДж

Точность хода оптической линии задержки, мкм

Максимальная длина хода оптической линии задержки, см

Электропитание от сети переменного тока

– напряжение питания, В

– частота, Гц

Потребляемая мощность, не более, Вт

Срок службы, не менее, лет

Условия эксплуатации

– температура окружающей среды, ºС

– относительная влажность воздуха, не более, %

– атмосферное давление, кПа

Габаритные размеры, не более, мм

Масса, не более, кг

от +10 до +35

60 (при 20º С)

от 84 до 106,7

1620×300×240

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится типографским способом на титульный лист Руко-

водства по эксплуатации и на корпус прибора методом наклеивания.

Комплектность средства измерений

Таблица 3

Наименование

Пикосекундный лазер EKSPLA PL2143A

Параметрический генератор света EKSPLA PG501P

Фемтосекундный лазерный комплекс на кристалле хром-форстерита

Количество, шт.

Лист 5

Всего листов 6

Оптическая линия задержки1

ПЭВМ1

Диск с программным обеспечением1

Руководство по эксплуатации, включающее методики поверки и измерений1

Методика поверки МП 36.Д4-111

Поверка

осуществляется по документу: «Система лазерная для измерений с временным раз-

решением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктуриро-

ванных материалов. Методика поверки № 36.Д4-11» утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 13

октября 2011г.

Основные средства поверки: государственные стандартные образцы нелинейной

восприимчивости, отвечающей за процесс самовоздействия света, CОНВ-2-1 и CОНВ-2-2

(свидетельства об утверждении типа ГСО №№ 1665 и 1666 от 11.11.2010 г.).

Сведения о методиках (методах) измерений

«Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптиче-

ских восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов. Руководство

по эксплуатации». Раздел 2. Использование по назначению.

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к системе ла-

зерной для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприим-

чивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

Техническая документация Московского государственного университета имени М.В. Ло-

моносова “Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптиче-

ских восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

”

Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обес-

печения единства измерений

Осуществление мероприятий государственного контроля (надзора) в области обес-

печения единства измерений и оценке соответствия нелинейно-оптических констант полу-

проводниковых наноструктурированных пленок и фотонных кристаллов на их основе эта-

лонным величинам аттестованных стандартных образцов нелинено-оптической восприим-

чивости

Изготовитель

Федеральное государственное унитарное предприятие “Московский государственный

университет имени М.В. Ломоносова” (МГУ имени М.В. Ломоносова)

Адрес: 119991, г. Москва, Ленинские горы, д.1

Телефон/факс: (495) 939-46-57

E-mail:

golovan@physics.msu.ru

www.msu.ru

Лист 6

Всего листов 6

Испытательный центр

Государственный центр испытаний средств измерений федерального государствен-

ного унитарного предприятия «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-

физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»), аттестат аккредитации государственного

центра испытаний (испытательной, измерительной лаборатории) средств измерений

№ 30003-08 от 30.12.2008 г.

Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная д.46.

Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47.

E-mail:

vniiofi@vniiofi.ru

www.vniiofi.ru

Заместитель

Руководителя Федерального

агентства по техническому

регулированию и метрологииЕ.Р. Петросян

М.п.«____»___________20___ г.

Готовы поверить данное средство измерений.

Поверка средств измерений.

ООО СУПРР 8(812)209-15-19, info@saprd.ru

Похожие средства измерения:

ГРСИ	Наименование СИ	Тип СИ	Производитель	МПИ	Ссылка
62838-15	Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электрической энергии (мощности) АИИС КУЭ филиала ОАО "Генерирующая компания" Казанская ТЭЦ-1	Нет данных	ООО "Татарстан Автоматизация и Связь Энерго", г.Казань	4 года	Перейти
34395-07	Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии - АИИС КУЭ ООО "Транснефтьсервис С". ОАО "Северо-Западные магистральные нефтепроводы". Измерительно-информационный комплекс НПС "Лазарево-1,2"	Нет данных	ЗАО "ОРДИНАТА", г.Москва	4 года	Перейти
80735-20	Система измерений количества и показателей качества нефти № 444 ООО "Транснефть-Балтика"		Акционерное общество "Нефтеавтоматика" (АО "Нефтеавтоматика"), Республика Башкортостан, г. Уфа	1 год	Перейти
51042-12	Система измерений количества и показателей качества нефтепродуктов ООО "РН-Туапсенефтепродукт" на причалах нефтепирса	Нет данных	Фирма "Krohne AG", Швейцария	1 год	Перейти
77958-20	Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) ЕНЭС ПС 220 кВ "Восток"		АО "Гидроэлектромонтаж", г.Благовещенск	4 года	Перейти

Поверка средств измерений

ООО "СУПРР"
ИНН 7813337035 КПП 781301001
ОГРН 1057813279919
197198, Санкт-Петербург, ул. Шамшева, д. 8, лит. А, пом. 230
8(812)209-15-19
info@saprd.ru

Поверка средств измерений